| 释义 |
semiconductor parameter measurement
- 参数cān shù
parameter; argument; arguments; parameters
- 半导体器件bàn dǎo tǐ qì jiàn
semiconductor device; semiconductor apparatus
- 窄禁带半导体zhǎi jìn dài bàn dǎo tǐ
narrow bandgap semiconductor
- 磁性测量cí xìng cè liàng
magnetic measurement
- 光学测量guāng xué cè liàng
optical measurement
- 介质测量jiè zhì cè liàng
Medium Measurement
- 态度测量tài dù cè liàng
attitude measurement
- 话务量测量huà wù liàng cè liàng
traffic measurement
- 规划参数guī huá cān shù
projecting parameter; planning parameter
- 计量标准jì liàng biāo zhǔn
measurement criteria; measurement standard
- 间接测量jiān jiē cè liàng
indirect measurement; indirect observation
- 半导体bàn dǎo tǐ
semiconductor
- 衡量尺度héng liàng chǐ dù
levels of measurement; measurement scale
- 参量cān liàng
parameter; characteristic
- 助变数zhù biàn shù
parameter
- 测量法cè liàng fǎ
measurement
- 锗半导体zhě bàn dǎo tǐ
germanium semiconductor
- 省略标签最简化参数shěng luè biāo qiān zuì jiǎn huà cān shù
omitted tag minimization parameter
- 既定准则jì dìng zhǔn zé
parameter
- 序参数xù cān shù
order parameter
- 半导体物理bàn dǎo tǐ wù lǐ
semiconductor physics
- 掺杂半导体chān zá bàn dǎo tǐ
doped semiconductor
- 参量估计cān liàng gū jì
parameter estimation
- 代码参数dài mǎ cān shù
code parameter
- 惯性参数guàn xìng cān shù
inertial parameter
|