At cruising altitude, this increases the chance of a single event upset by 10 to 30 times.
在巡航高度， 这会使单一事件发生的可能性增加 10 到 30 倍。
Single event upset
原声例句
Veritasium真理元素
Veritasium真理元素
This is known as a single event upset, a type of soft error.
这被称为单粒子翻转， 是一种软错误。
中文百科
单粒子翻转
单粒子翻转英文缩写SEU（Single-Event Upsets），航天电子学术语，原因是在空间环境下存在着大量高能带电粒子，计算机中的CMOS电子元器件受到地球磁场、宇宙射线等照射，引起电位状态的跳变，“0”变成“1”，或者“1”变成“0”，但一般不会造成器件的物理性损伤。
单粒子翻转指标用单粒子翻转率来描述，单粒子翻转率是器件每天每位发生单粒子翻转的概率，计算质子单粒子翻转率的一般性公式：
其中：
为阈值能量，单位MeV；
为质子单粒子翻转截面积，单位
；
为质子微分流量。
英语百科
Single event upset 单粒子翻转
A single event upset (SEU) is a change of state caused by one single ionizing particle (ions, electrons, photons...) striking a sensitive node in a micro-electronic device, such as in a microprocessor, semiconductor memory, or power transistors. The state change is a result of the free charge created by ionization in or close to an important node of a logic element (e.g. memory "bit"). The error in device output or operation caused as a result of the strike is called an SEU or a soft error.